Вам нужен реферат?
Интересует Экономика?
Оставьте заявку
на Реферат
Получите бесплатную
консультацию по
написанию
Сделайте заказ и
скачайте
результат на сайте
1
2
3

История развития теоретических основ управления качеством разработки и производства электронной техники специального назначения в современных условиях.

  • 27 страниц
  • 19 источников
  • Добавлена 19.08.2011
770 руб. 1 100 руб.
  • Содержание
  • Часть работы
  • Список литературы
Содержание
Введение
1. Зарубежный опыт развития теории управления надежностью и качеством электронных изделий специального назначения
2. Особенности становления и развития теоретических основ управления качеством разработки и производства электронной техники специального назначения в СССР и на постсоветском пространстве
3. Перспективные направления развития теории управления качеством разработки и производства электронной техники специального назначения
Заключение
Литература

Фрагмент для ознакомления

Смещение акцента с использования обычных программно-управляемых микропроцессоров и микроконтроллеров на применение конфигурируемой интегральной техники не просто позволяет модернизировать компонентную базу электронной техники, а приводит к существенному изменению процесса управления качеством разработки и производства электроники. Используемые на сегодняшний день теоретические основы исследования управления качеством разработки и производства электронной аппаратуры как у нас в стране, так и за рубежом, все более не удовлетворяют требованиям практики и уровню технологии производства. В обзорах о состоянии механизмов исследования качества за последние годы специалисты все чаще приходят к выводам о неадекватности существующей научной базы и инструментария, об узкой специализации автоматизированных систем исследования, поскольку слишком часто и значительно расходятся прогнозные оценки и реальные значения показателей надежности и качества.
Усложнение интегральных устройств приводит к тому, что вероятность внесения ошибки (несоответствия требованиям системной спецификации) в их топологию увеличивается. Примером этому может служить тот факт, что при эксплуатации процессора Intel Pentium I было выявлено две ошибки, в современном процессоре Intel Core 2 количество официально признанных ошибок достигает 105.
Высокий уровень развития отрасли производства электроники в настоящее время может быть достигнут за счет внедрения новых технологий производства и монтажа в процесс управления качеством разработки и реализации электронной техники специального назначения. Принимая во внимание наблюдаемое усложнение изделий и технологических процессов, возрастает необходимость в разработке методов неразрушающего контроля микроструктуры материалов и устройств на различных стадиях их обработки и изготовления. Традиционные механизмы исследования, такие как оптическая и электронная микроскопия, имеют ряд ограничений в области визуализации микрообъектов. Автоматизированный монтаж печатных плат по технологии SMT и THT, автоматический оптический и рентген-контроль, бессвинцовая пайка — эти технологии позволяют обеспечить качественно новый уровень выпускаемой продукции. Технология поверхностного монтажа печатных плат обладает рядом преимуществ. Это снижение габаритов и массы печатных узлов, улучшение электрических характеристик, повышение технологичности, ремонтопригодности и, конечно, снижение себестоимости.
Первопроходец в области оптического контроля и рентгенодефектоскопии в промышленности, компания VISCOM AG предлагает сегодня самый большой диапазон продукции и является одним из основных поставщиков систем контроля по всему миру.
Кроме вышеперечисленных, перспективным направлением развития теории управления качеством разработки и производства электронной техники специального назначения являются акустические методы. Это обусловлено многообразием задач, которые могут быть решены с их помощью. Акустические методы позволяют обнаруживать дефекты малых размеров (единицы микрон) в металлических и неметаллических материалах, определять размеры изделий, ориентацию и координаты дефектов, выявлять дефекты типа нарушений сплошности, расслоений, трещин, инородных включений и т. д., а также определять физико-механические характеристики материалов (модуль упругости, коэффициент внутреннего трения, твердость, зернистость и др.). Эти методы обеспечивают высокую разрешающую способность, точность, надежность, производительность и полную безопасность процесса контроля. Более 50% всех приборов неразрушающего контроля, выпускаемых в настоящее время в мире, являются акустическими (ультразвуковые дефектоскопы, толщиномеры, приборы для измерения физико-механических характеристик). Также особое внимание ученых занимают термо и оптикоакустическим эффекты.
В концерне «Планар» занимаются разработкой и созданием комплекса лазерного фотоакустического диагностирования и неразрушающего контроля качества сварных, паяных и адгезионных соединений в изделиях электроники Это относительная новая сфера теории проверки и контроля качества, которая имеет с технической точки зрения многообещающие перспективы развития. Что качается финансовой стороны то, факторами экономической эффективности лазерного фотоакустического метода являются: возможность повышения качества деталей и изделий по ранее неконтролируемым характеристикам; однозначность получаемой информации, полностью отражающей физическую сущность контролируемой характеристики или свойства; универсальность применения для решения многих задач, исключающая разработку других, узкоспециальных, средств контроля; возможность контроля на ранних стадиях производства в процессе оптимизации технологий; однократность применения метода для стабилизации или корректировки технологии до уровня.
Таким образом, перспективные направления теории управления качеством разработки и производства электронной техники специального назначения имеют весьма широкие горизонты исследования и реализации.
Заключение
Таким образом, подводя итог проведенному исследованию необходимо отметить, что история развития теоретических основ управления качеством разработки и производства электронной техники специального назначения, несмотря на свою относительную «молодость» прошла длинный и непростой путь. Современный этап развития начался в 50-х гг. ХХ ст. в США, с того момента, когда отрасль электроники была достаточной закрытой сферой деятельность, поскольку находилась на службе у военной промышленности и только спустя несколько лет, выйдя на рынок гражданских продуктов, она приобрела особую популярность. В развитии теории качества можно выделить три этапа:
50-е годы - становление направления;
60-е годы - этап классической теории качества и надежности;
с 70-х годов по настоящее время - этап системных методов обеспечения качества.
В ряде промышленно развитых стран изучение безопасности технических систем и обеспечение их качества, как отдельной независимой деятельности, было введено в практику в шестидесятых годах, и центр внимания переместился от анализа поведения отдельных элементов различного типа (электрических, механических, гидравлических) на причины и последствия, вызываемые отказом этих элементов в соответствующей системе. Советский Союз в этом вопросе поначалу несколько отстал, но потом научная мысль вошла в нужное русло и развивалась значительными темпами. Центрами теории качества являлись Москва, Ленинград, Рига, Минск, Иркутск.
В ХХI веке теория управления качеством разработки и производства электронной техники специального назначения обрела новое дыхание, связанное с развитием компьютеров, радиоэлектронной техники массового использования, микропроцессоров; усложнением и уменьшением комплектующих и составляющих; расширением области применения и решаемых задач.
Литература
Automotive and aviation industries. - Philadelphia : Chilton Co., 1947-1969. - Vol. 97, №. 1. – 141р
Intel® Core™ 2 Extreme Processor Х6800Д and Intel® Core™2 Duo Desktop Processor E6000 and E4000 Sequence. Specification Update / Фирма Intel. Май 2007 г. [Электронный ресурс] (http:// downloadcenter.intel.com/design/processor/specupdt/ 31327914.pdf
Maestro J. A. Fault Tolerant Single Error Correction Encoders / Maestro, J. A. Reviriego, P. Argyrides, C. Pradhan, D. K. – Journal of Electronic testing. – 2011. – Vol 27. - №27. – Р. 215-218.
Royzman V. P., Lebed A. V. Theoretical and experimental analysis the humidity protective units of electrolytic and thin-film capacitors / Рroceedings of PCIM 2001 Conf.— Nuremberg, Germany.— 2001.— P. 382—387.
The Status of the Reliability Technology // RAC Jornal. – 1995. – Vol. 3, N 1. – P. 5–7; Coppola A. The Status of the Reliability Engineering Technology // Reliability Society Newsletter. – 1997. – N 43. – P. 7–9; Стрельников В.П. Состояние и перспективы теории и практики надежности // Надежность и долговечность машин и сооружений: Международный научно-технический сборник. – 2005. – Вып. 24. – С. 27–38.
Авербах В. И., Волкенштейн С. С., Школык С. Б. Метод лазерной фотоакустической диагностики качества монтажа кристаллов, сварных и паяных микросоединений в изделиях микроэлектроники и электронной техники // J. China Integrated Circuit. V. 64. 2004.
Герцбах И.Б., Кордонский Х.Б. Модели отказов (Библиотека инженера по надежности). — М.: Сов. Радио, 1966. – 402с.; Герцбах И.Б. Модели профилактики. — М.: Сов. Радио, 1968. – 367с
Гнеденко Б.В., Беляев Ю.К., Соловьев А.Д. Математические методы в теории надежности. — М.: Наука, 1965. – 540с.
Гуреева О. Транзисторная история, изобретение транзисторов и развитие полупроводниковой электроники / Гуреева О. // Компоненты и технологии. - 2006. - № 62. - С. 198-206.; Гольцова М.Перспективы развития электронии. Что год грядущий нам готовит? / Гольцова М. // Электроника: Наука, технология, бизнес. – 2008. - № 1. - С. 117-123; Федорашко Л.И. История электроники / Федорашко Л.И. // Автоматика. Информатика. - 2004. - Т. 1-2. - С. 86-91.
Д. Ллойд Надежность / Д.Ллойд, М. Липов. – М.: Сов. радио, 1964. – 668с.
Иванов Д. В. Современные принципы построения программного обеспечения бортовых и наземных программно-аппаратных комплексов // ОАО «Корпорация "Русские Системы». 2006 [Электронный ресурс] (http://www.rusys.ru/docs/ Den/ article.pdf).
Каштанов В.А. Теория надежности сложных систем / Каштанов В.А., Медведев А.И.- Moscow: ООО Издательская фирма "Физико-математическая литература", 2009. – 608с.
Квапель Д.Тотальный контроль качества «в руках» контрактного производителя / Квапель Д. // Технологии в электронной промышленности. 2008. № 24. С. 45-47.
Методы контроля и диагностики скрытых дефектов в изделиях электроники / Хмыль А., Ланин В., Волкенштейн С. // Компоненты и технологии. 2010. № 103. С. 137-142.
Перроте А.И. Основы ускоренных испытаний на надёжность / Перроте А.И., Карташев Г.Д., Цветаев К.Н. . – М.: Сов. Радио, 1968. – 221с.
Скрябин А. М. Способ организации процесса динамического тестирования программного обеспечения специализированного вычислителя / Скрябин А. М., Кардаш Д. И. // Вторая Всероссийск. науч.-техн. конф. с международным участием «Мехатроника, автоматизация, управление» (МАУ'2005): Сб. тр. Т. 2. 2005. C. 281-287.Скрябин А. М., Кардаш Д. И.
Хмелевская О. Качество начинается с входного контроля / Хмелевская О. // Электроника: Наука, технология, бизнес. - 2008. - № 5. - С. 82-85.
Хмель А. Методы контроля и диагностики скрытых дефектов в изделиях электроники / Хмыль А., Ланин В., Волкенштейн С. // Компоненты и технологии. - 2010. - № 103. - С. 137-142.
Широков А.М. Основы надежности и эксплуатации электронной аппаратуры. — Минск: Наука и техника, 1965. – 231с.


Иванов Д. В. Современные принципы построения программного обеспечения бортовых и наземных программно-аппаратных комплексов // ОАО «Корпорация "Русские Системы». 2006 [Электронный ресурс] (http://www.rusys.ru/docs/ Den/ article.pdf)

Перроте А.И. Основы ускоренных испытаний на надёжность / Перроте А.И., Карташев Г.Д., Цветаев К.Н. . – М.: Сов. Радио, 1968. – 221с.
Д. Ллойд Надежность / Д.Ллойд, М. Липов. – М.: Сов. радио, 1964. – 668с.
Каштанов В.А. Теория надежности сложных систем / Каштанов В.А., Медведев А.И.- Moscow: ООО Издательская фирма "Физико-математическая литература", 2009. – 608с.
Royzman V. P., Lebed A. V. Theoretical and experimental analysis the humidity protective units of electrolytic and thin-film capacitors / Рroceedings of PCIM 2001 Conf.— Nuremberg, Germany.— 2001.— P. 382—387.
Maestro J. A. Fault Tolerant Single Error Correction Encoders / Maestro, J. A. Reviriego, P. Argyrides, C. Pradhan, D. K. – Journal of Electronic testing. – 2011. – Vol 27. - №27. – Р. 215-218.
Automotive and aviation industries. - Philadelphia : Chilton Co., 1947-1969. - Vol. 97, №. 1. – 141р.
Методы контроля и диагностики скрытых дефектов в изделиях электроники / Хмыль А., Ланин В., Волкенштейн С. // Компоненты и технологии. 2010. № 103. С. 137-142.
Скрябин А. М. Способ организации процесса динамического тестирования программного обеспечения специализированного вычислителя / Скрябин А. М., Кардаш Д. И. // Вторая Всероссийск. науч.-техн. конф. с международным участием «Мехатроника, автоматизация, управление» (МАУ'2005): Сб. тр. Т. 2. 2005. C. 281-287.Скрябин А. М., Кардаш Д. И.
Гуреева О. Транзисторная история, изобретение транзисторов и развитие полупроводниковой электроники / Гуреева О. // Компоненты и технологии. - 2006. - № 62. - С. 198-206.; Гольцова М.Перспективы развития электронии. Что год грядущий нам готовит? / Гольцова М. // Электроника: Наука, технология, бизнес. – 2008. - № 1. - С. 117-123; Федорашко Л.И. История электроники / Федорашко Л.И. // Автоматика. Информатика. - 2004. - Т. 1-2. - С. 86-91.
Гнеденко Б.В., Беляев Ю.К., Соловьев А.Д. Математические методы в теории надежности. — М.: Наука, 1965. – 540с.
Широков А.М. Основы надежности и эксплуатации электронной аппаратуры. — Минск: Наука и техника, 1965. – 231с.
Герцбах И.Б., Кордонский Х.Б. Модели отказов (Библиотека инженера по надежности). — М.: Сов. Радио, 1966. – 402с.; Герцбах И.Б. Модели профилактики. — М.: Сов. Радио, 1968. – 367с.
Хмелевская О. Качество начинается с входного контроля / Хмелевская О. // Электроника: Наука, технология, бизнес. - 2008. - № 5. - С. 82-85.
The Status of the Reliability Technology // RAC Jornal. – 1995. – Vol. 3, N 1. – P. 5–7; Coppola A. The Status of the Reliability Engineering Technology // Reliability Society Newsletter. – 1997. – N 43. – P. 7–9; Стрельников В.П. Состояние и перспективы теории и практики надежности // Надежность и долговечность машин и сооружений: Международный научно-технический сборник. – 2005. – Вып. 24. – С. 27–38.
Intel® Core™ 2 Extreme Processor Х6800Д and Intel® Core™2 Duo Desktop Processor E6000 and E4000 Sequence. Specification Update / Фирма Intel. Май 2007 г. [Электронный ресурс] (http:// downloadcenter.intel.com/design/processor/specupdt/ 31327914.pdf
Квапель Д.Тотальный контроль качества «в руках» контрактного производителя / Квапель Д. // Технологии в электронной промышленности. - 2008. - № 24. - С. 45-47.
Хмель А. Методы контроля и диагностики скрытых дефектов в изделиях электроники / Хмыль А., Ланин В., Волкенштейн С. // Компоненты и технологии. - 2010. - № 103. - С. 137-142.
Авербах В. И., Волкенштейн С. С., Школык С. Б. Метод лазерной фотоакустической диагностики качества монтажа кристаллов, сварных и паяных микросоединений в изделиях микроэлектроники и электронной техники // J. China Integrated Circuit. V. 64. 2004.












25

Литература
1.Automotive and aviation industries. - Philadelphia : Chilton Co., 1947-1969. - Vol. 97, №. 1. – 141р
2. Intel® Core™ 2 Extreme Processor Х6800Д and Intel® Core™2 Duo Desktop Processor E6000 and E4000 Sequence. Specification Update / Фирма Intel. Май 2007 г. [Электронный ресурс] (http:// downloadcenter.intel.com/design/processor/specupdt/ 31327914.pdf
3.Maestro J. A. Fault Tolerant Single Error Correction Encoders / Maestro, J. A. Reviriego, P. Argyrides, C. Pradhan, D. K. – Journal of Electronic testing. – 2011. – Vol 27. - №27. – Р. 215-218.
4.Royzman V. P., Lebed A. V. Theoretical and experimental analysis the humidity protective units of electrolytic and thin-film capacitors / Рroceedings of PCIM 2001 Conf.— Nuremberg, Germany.— 2001.— P. 382—387.
5.The Status of the Reliability Technology // RAC Jornal. – 1995. – Vol. 3, N 1. – P. 5–7; Coppola A. The Status of the Reliability Engineering Technology // Reliability Society Newsletter. – 1997. – N 43. – P. 7–9; Стрельников В.П. Состояние и перспективы теории и практики надежности // Надежность и долговечность машин и сооружений: Международный научно-технический сборник. – 2005. – Вып. 24. – С. 27–38.
6.Авербах В. И., Волкенштейн С. С., Школык С. Б. Метод лазерной фотоакустической диагностики качества монтажа кристаллов, сварных и паяных микросоединений в изделиях микроэлектроники и электронной техники // J. China Integrated Circuit. V. 64. 2004.
7. Герцбах И.Б., Кордонский Х.Б. Модели отказов (Библиотека инженера по надежности). — М.: Сов. Радио, 1966. – 402с.; Герцбах И.Б. Модели профилактики. — М.: Сов. Радио, 1968. – 367с
8.Гнеденко Б.В., Беляев Ю.К., Соловьев А.Д. Математические методы в теории надежности. — М.: Наука, 1965. – 540с.
9.Гуреева О. Транзисторная история, изобретение транзисторов и развитие полупроводниковой электроники / Гуреева О. // Компоненты и технологии. - 2006. - № 62. - С. 198-206.; Гольцова М.Перспективы развития электронии. Что год грядущий нам готовит? / Гольцова М. // Электроника: Наука, технология, бизнес. – 2008. - № 1. - С. 117-123; Федорашко Л.И. История электроники / Федорашко Л.И. // Автоматика. Информатика. - 2004. - Т. 1-2. - С. 86-91.
10.Д. Ллойд Надежность / Д.Ллойд, М. Липов. – М.: Сов. радио, 1964. – 668с.
11.Иванов Д. В. Современные принципы по¬строения программного обеспечения бортовых и наземных программно-аппаратных комплексов // ОАО «Корпорация "Русские Системы». 2006 [Электронный ресурс] (http://www.rusys.ru/docs/ Den/ article.pdf).
12.Каштанов В.А. Теория надежности сложных систем / Каштанов В.А., Медведев А.И.- Moscow: ООО Издательская фирма "Физико-математическая литература", 2009. – 608с.
13.Квапель Д.Тотальный контроль качества «в руках» контрактного производителя / Квапель Д. // Технологии в электронной промышленности. 2008. № 24. С. 45-47.
14.Методы контроля и диагностики скрытых дефектов в изделиях электроники / Хмыль А., Ланин В., Волкенштейн С. // Компоненты и технологии. 2010. № 103. С. 137-142.
15.Перроте А.И. Основы ускоренных испытаний на надёжность / Перроте А.И., Карташев Г.Д., Цветаев К.Н. . – М.: Сов. Радио, 1968. – 221с.
16.Скрябин А. М. Способ организации процесса динамического тестирования программного обеспечения специализированного вычислителя / Скрябин А. М., Кардаш Д. И. // Вторая Всероссийск. науч.-техн. конф. с международным участием «Мехатроника, автоматизация, управление» (МАУ'2005): Сб. тр. Т. 2. 2005. C. 281-287.Скрябин А. М., Кардаш Д. И.
17.Хмелевская О. Качество начинается с входного контроля / Хмелевская О. // Электроника: Наука, технология, бизнес. - 2008. - № 5. - С. 82-85.
18.Хмель А. Методы контроля и диагностики скрытых дефектов в изделиях электроники / Хмыль А., Ланин В., Волкенштейн С. // Компоненты и технологии. - 2010. - № 103. - С. 137-142.
19.Широков А.М. Основы надежности и эксплуатации электронной аппаратуры. — Минск: Наука и техника, 1965. – 231с.

У нас вы можете заказать