научная работа - предмет - приборостроение, нанотехнологии. Необходимо сделать литобзор по указанной теме. во вложении материал, который может как-то помочь..

Основы сканирующей зондовой микроскопии

Министерство образования и науки РОССИЙСКОЙ федерации

ФЕДЕРАЛЬНОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО ОБРАЗОВАТЕЛЬНОГО УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ

&';ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ, САРАТОВ

НАЗВАНИЕ.- Н.G. ЧЕРНЫШЕВСКОГО&';

Кафедра материаловедения,

технологии и управления качеством

КУРСЫ

ОСНОВЫ сканирующей зондовой МИКРОСКОПИИ

студента 1 курса 121 группы направления

&';Наука и технологии материалов&';

на факультете нано - биомедицинских технологий

Чаплыгина Андрея Эдуардовича

Научный руководитель

О. А. Иноземцева

Саратов 2013

Содержание

Введение

1. Теоретическая часть

1.1 Принципы работы сканирование зондовых микроскопов

1.2 Сканирующие элементы зондовых микроскопов

1.3 Защита зондовых микроскопов от внешних воздействий

1.3.1 Защита от вибрации

1.3.2 Защита от акустических шумов

1.3.3 Стабилизация термодрейфа положения зонда над поверхностью

1.4 Формирование и обработка СЗМ изображений

1.5 Атомно-силовой микроскопии

2. Практическая часть

2.1 Сравнение LFS с растровым электронным микроскопом (PCM)

Вывод

Список используемой литературы

Введение

Сканирование зондовая микроскопия (СЗМ) - один из мощных современных методов исследования морфологии и локальных свойств поверхности твердого тела с высоким разрешением пространственная. В последние 10 лет, сканирования зондовая микроскопия превратилась из методов экзотика, доступная только ограниченному числу исследовательских групп, в широко и успешно используемый инструмент для исследования свойств поверхности. В настоящее время практически ни одно исследование в области физики поверхности и технологии тонкопленочных не обходится без применения методов СЗМ. Развитие сканирующей зондовой микроскопии был также основой для развития новых методов в нано - технологии создания структур с нанометровыми лестнице. Сканирования туннельный микроскоп (СТМ) - первый из семейства зондовых микроскопов - был изобретен в 1981 году швейцарскими учеными Гердом Биннигом и генрихом Рорером. В своих работах, показали, что это довольно простой и весьма эффективный способ исследования поверхности с пространственным разрешением вплоть до атомарного. В настоящее время признание данная методика получила после визуализации атомарной структуры поверхности ряда материалов и, в частности, реконструированной поверхности кремния. В 1986 году за создание туннельного микроскопа, Биннигу и Рореру была присуждена Нобелевская премия по физике. После туннельным микроскопом в течение короткого времени были созданы атомно-силовой микроскоп (АСМ), магнитно-силовой микроскоп (МСМ), электросиловой микроскоп (ЭСМ), ближнепольный оптический микроскоп (БОМ) и многие другие приборы, имеющие сходные принципы работы и называемые сканирования зондовыми микроскопами. В настоящее время зондовая микроскопия это бурно разработки в области технологии и прикладных исследований.